膜厚测定装置-光谱系统-仪器设备-生物在线
沈阳佳士科商贸有限公司
膜厚测定装置

膜厚测定装置

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产品名称： 膜厚测定装置

英文名称：

产品编号： UTS-2000

产品价格： 0

产品产地： 日本分光（株）/JASCO

品牌商标： JASCO日本分光

更新时间： null

使用范围： null

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▼概要

自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设定P偏光和S偏光角度，能研究样品的偏光特性。

可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。

◆规格

▼ARMV-734/ARMN-735　自动绝对反射率测量组件（V-600用）

型号

ARMV-734

ARMN-735

测定波长范围

250～850nm

250～2000nm

测量方式

测量绝对反射率、测量透过率

入射角

5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0　～　85℃（大入射角样品支架、选项)

角度间隔

0.1°间隔

设定方式

同期、非同期（入射部和受光部）

测量偏光

S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定

※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。


 

▼VAR-7010/7020/7030　自动绝对反射率测量组件（V-7000用）

型号

VAR-7010

VAR-7020

VAR-7030

测量波长范围

250～900nm

250～2000nm

250～1800nm

测定方式

测量绝对反射率、测量透过率

入射角

5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0　～　85℃（大入射角样品支架、选项)

角度間隔

0.1°间隔

设定方式

同期、非同期（入射部和受光部）

测量偏光

S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)

※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。